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用显微法怎么检查碳化硅粒度
科技的发展推动市场的进步,自从碳化硅材料问世以来,碳化硅给市场带来更多的便利之处,许多行业都和碳化硅材料相关。碳化硅微粉广泛应用于特种涂料、磨具磨料、高温陶瓷、电子、冶金、特种涂料、化工等行业,具有耐磨性能优异、强度高、耐高温、耐化学腐蚀、耐辐射、耐热震、导电导热性能强等优点。
绿碳化硅微粉干燥后有粘结的小团,需要再次对微粉进行筛松,之后要对产品质量进行检查,检查的项目主要是化学成分与粒度组成两大项。按照国家标准GB2481-83的规定,碳化硅微粉粒度组成检查采用显微法。下面我们来说一下操作过程:
1. 不同粒度采用不同的目镜测微尺刻度值。
2. 取少许试样置于小器皿中,滴入适当的甘油、拌匀,取一点置于载玻片上,盖上盖片使之均匀摊开,放在显微镜下观测。
3. 检查时视域必须自试样的一端起沿着直线到另一端,受检碳化硅抛光砂颗粒必须在300个以上。
4. 碳化硅颗粒不得重复测量,颗粒尺寸按其宽度计算,等于界限尺寸的碳化硅喷砂颗粒属于基本本粒范围的应记入基本粒,其他的应记入下一粒群。